PAT(Part Average Testing)表示零件平均测试,是一种应用(yòng)于ATE中提高元器件品质和可(kě)靠性的方法,根据工艺生产能(néng)力的不同而在测试项中加入更严格的测试范围。
PAT功能(néng)可(kě)分(fēn)為(wèi)静态与动态两类。静态PAT通常应用(yòng)于CP及WLCSP量产环节,一整片或一个批次晶圆完成测试后对数据统计并实施PAT;而DPAT,亦称动态DPAT,通常应用(yòng)于FT量产环节,实时对数据实施PAT。
您可(kě)从本文(wén)了解到:
1. DPAT设定界面
2. 案例分(fēn)析