1）应尽量缩短引脚的连線(xiàn)，所需连接的元件（如電(diàn)感）尽量靠近器件引脚的根部；
2）将高频元件布局在DUT板的一个小(xiǎo)范围内，并遠(yuǎn)离其他(tā)元件；
3）尽量做到一点接地，防止高频信号影响地線(xiàn)；
4）被测器件電(diàn)源端应有(yǒu)接地電(diàn)容，防止高频信号通过電(diàn)源干扰其他(tā)外围元器件和V/I源；
5）器件的输入输出端除加规定的電(diàn)解電(diàn)容接地外，还要在電(diàn)解電(diàn)容上并联合适的滤波電(diàn)容；
6）特别情况下在相关V/I源的SENSE線(xiàn)中串入1K電(diàn)阻，减少高频信号对V/I源的干扰；
7）有(yǒu)阈值测量的输入端对地接入高频電(diàn)容，可(kě)以保证扫描信号的质量；
8）所有(yǒu)電(diàn)容，离器件引脚越近越好，包括電(diàn)容的地。
1）POWER插座中定义了5个地線(xiàn)AGND，PCB布板时可(kě)将这5个点连在一起，并采用(yòng)较粗的線(xiàn)宽，推荐在正反两面将空白空间铺满AGND敷铜；
2）DUT板上的插座外壳和電(diàn)缆的屏蔽层是相连的，所以在设计PCB时一定要把插座的外壳和AGND连通，否则屏蔽效果会变差；
3）在大電(diàn)流的测试中FORCE線(xiàn)应该有(yǒu)足够的線(xiàn)宽（通常建议按大于2A/50 mil線(xiàn)宽设计PCB），尽量避免采用(yòng)对穿孔；
4）允许一根CBIT線(xiàn)同时控制多(duō)个继電(diàn)器，但其总電(diàn)流不能(néng)超过100mA（一般继電(diàn)器的工作電(diàn)流都是mA级的，也就是说一根CBIT線(xiàn)能(néng)同时控制20个继電(diàn)器的开合）。
1）PCB板是漏電(diàn)的最重要的原因，选用(yòng)高质量的板材是测试小(xiǎo)電(diàn)流的前提；
2）在布板时尽量拉大焊盘间的距离；
3）在PCB布線(xiàn)时应在正反两面用(yòng)GUARD線(xiàn)将FORCE和SENSE線(xiàn)完整地包围起来，构成等電(diàn)位屏蔽环，防止与其他(tā)不同電(diàn)位点之间的漏電(diàn)；
4）為(wèi)防止PCB板線(xiàn)间漏電(diàn)，采用(yòng)飞線(xiàn)其实是又(yòu)简单又(yòu)有(yǒu)效的方法。
1）一定要用(yòng)英文(wén)输入法写代码，并且需要區(qū)分(fēn)大、小(xiǎo)写；
2）声明的变量一定要赋初值（例如：int i=0;）；
3）描述测试参数时，一定要特别注意指向正确的函数；
4）如果是V1.1.0.3以前版本（包括V1.1.0.3）的系统软件，如果用(yòng)到DIO板，需要在程序里加入“#include DIO.h”语句。如果同时用(yòng)到QTMU板，则QTMU板的版本一定要在V1.3以上；
5）切记：系统中，電(diàn)压单位缺省是V，電(diàn)流单位缺省是A，频率单位缺省是KHz，时间单位缺省是us；
6） 保存测试结果的数组，对于VI源要定义成float型一维数组，数组長(cháng)度大于等于4；对于ACSM，数组長(cháng)度要大于10000；QTMU的类型需要定义成double类型，数组長(cháng)度等于4。例外：DIO板不同的函数返回值类型不同，具體(tǐ)如下：DIO板读取RAM内pattern运行结果函数――GetSerialPatternResult()返回值类型為(wèi)DWORD型，十进制整数。
7）在进行電(diàn)压或電(diàn)流量程切换时，建议在Disable或Disconnect的状态下进行，避免在切换量程时产生電(diàn)压或電(diàn)流尖峰；
8）大功率器件编程时，建议把小(xiǎo)负载参数和大负载参数分(fēn)成2个函数，这样即便因為(wèi)接触不良而导致小(xiǎo)负载输出fail时，不会再继续运行大负载输出的测试，保证了测试的安全性。
1）如错误提示“Cannot open include file: "astdef.h"”。请检查include是否添加Accotest根目录下的include文(wén)件夹。
2）如错误提示“Cannot open file "Ast2k.lib"”。请检查Lib是否添加Accotest根目录下的Lib文(wén)件夹。
3）如错误提示“Cannot open include file: "windows.h"”。请检查include是否添加VC软件自带include库（VC6.0对应路径：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio\VC98\MFC\INCLUDE ；VC2005对应路径：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\Lib）。
4）如错误提示“cannot open file "LIBCMTD.lib"”。请检查Lib是否添加VC软件自带Lib库（VC6.0对应路径：C:\PROGRAM FILES\MICROSOFT VISUAL STUDIO\VC98\LIB；VC2005对应路径：C:\Program Files\Microsoft Visual Studio 8\VC\PlatformSDK\include）。
通常情况下，当测试参数和测试函数體(tǐ)数目相同，且一一对应时，测试参数的显示、测试顺序是一致的，由CParam定义。
但，当2个以上的测试参数指向同一个测试函数體(tǐ)时，有(yǒu)时显示顺序和测试顺序可(kě)能(néng)会不一致。样例如下：
我们定义了3个测试體(tǐ)：Void test_A();
Void test_B();
Void test_C();
同时我们又(yòu)定义了四个测试参数：
CParam:a,b,c,d;
在对四个测试参数做描述时，我们把参数a指向了test_A()，把b和c指向了test_B()，参数d指向了test_C()。如果b和c在test_B()的先后顺序就是先b后c。那么我们的测试顺序和屏幕显示顺序就是一致的a→b→c→d。如果在test_B中，我们先编写了参数c的代码然后编写了参数b的代码。那么在显示时的顺序仍旧是a→b→c→d，但实际测试顺序却变成了a→c→b→d。
【注意】需要说明的是，test_A，test_B，test_C在程序中的位置和顺序对测试和显示顺序是没有(yǒu)影响的。
【建议】在编写程序时，特别注意test_A, test_B, test_C在程序段中的位置关系，尽量保证测试顺序和显示的顺序一致。这样做的好处是直观，思路清晰，方便对源的调用(yòng)。
如果没有(yǒu)扫描参数，单工位和多(duō)工位程序是完全相同的，區(qū)别在于使用(yòng)不同的config文(wén)件，由config文(wén)件来控制是单工位测试还是多(duō)工位测试。读出测试结果时，多(duō)工位程序通常采用(yòng)循环语句读取，数据第一位是site1的，第二位是site2的。。。以此类推。比如下面一段程序：
for(i=0 ; i<siteID ; i++)
{}
其中siteID是要测试的工位数。当siteID=4时就是四工位赋值，通过上面的一段代码可(kě)以把存放在数组adresult[4]中的数据读出来。如测试的结果是a,b,c,d，adresult[4]={a,b,c,d};那么adresult[0]=a就是site1的测试结果；同理(lǐ)，adresult[1]=b是site2的值；adresult[2]=c是site3的值；adresult[3]=d是site4的值。
不建议客户自己修改config文(wén)件，如果需要改动，建议请供应商(shāng)帮忙修改。
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